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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Premelting at the ice-SiO2 interface : a high-energy X-ray microbeam diffraction study / vorgelegt von Simon Christoph Engemann
Person(en) Engemann, Simon Christoph (Verfasser)
Verlag Norderstedt : Books on Demand GmbH
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: [2006]
Umfang/Format Online-Ressource, ca. 7,2 MB
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Premelting at the ice-SiO2 interface
Hochschulschrift Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2005
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-24933
URL http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2006/2493/pdf/DissEngemann.pdf (Verlag)
http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2006/2493/ (Verlag)
ISBN/Einband/Preis 978-3-8334-3980-3
3-8334-3980-7
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Eis ; Siliciumdioxid ; Grenzfläche ; Oberflächenschmelzen ; Online-Publikation
DDC-Notation 530.417 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik

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