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Titel Towards large-scale single-shot millimeter-wave imaging for low-cost security inspection / by Liheng Bian, Daoyu Li, Shuoguang Wang, Chunyang Teng, Jinxuan Wu, Huteng Liu, Hanwen Xu, Xuyang Chang, Guoqiang Zhao, Shiyong Li, Jun Zhang
Person(en) Bian, Liheng (Verfasser)
Li, Daoyu (Verfasser)
Wang, Shuoguang (Verfasser)
Teng, Chunyang (Verfasser)
Wu, Jinxuan (Verfasser)
Liu, Huteng (Verfasser)
Xu, Hanwen (Verfasser)
Chang, Xuyang (Verfasser)
Zhao, Guoqiang (Verfasser)
Li, Shiyong (Verfasser)
Zhang, Jun (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2410250843084.430270526519
DOI: 10.1038/s41467-024-50288-y
URL https://doi.org/10.1038/s41467-024-50288-y
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 621.3822 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Nature Communications (Bd. 15, 31.7.2024, Nr. 1, date:12.2024: 1-11)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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