Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Servicezeiten in Frankfurt am Main ab 1. Dezember 2025: Montag bis Freitag 9–18 Uhr und Samstag 10–16 Uhr
Service hours in Frankfurt am Main from 1 December 2025: Monday to Friday 9:00-18:00 and Saturday 10:00-16:00
 
Neuigkeiten

Leichte Bedienung, intuitive Suche: Die Betaversion unseres neuen Katalogs ist online! → Zur Betaversion des neuen DNB-Katalogs

 
 

Ergebnis der Suche nach: "Trade-off"

Zurück zur Trefferliste


Treffer 155 von 2473 < < > <



Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1356852157
Titel Gate Layout and Process Reliability Co‐Optimization in High‐Speed Vertical III–V Nanowire Metal‐Oxide‐Semiconductor Field‐Effect Transistor Technology
Person(en) Sandberg, Marcus E. (Verfasser)
Löfstrand, Anette (Verfasser)
Svensson, Johannes (Verfasser)
Fhager, Lars (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2502191308325.379847222640
DOI: 10.1002/pssa.202400690
URL https://doi.org/10.1002/pssa.202400690
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 18.02.2025
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Physica status solidi / A / Applications and materials science (18.02.2025. 6 S.)

Online-Zugriff Archivobjekt öffnen




Treffer 155 von 2473
< < > <




Aktionen

Aktionen


E-Mail-IconKorrekturanfrage

E-Mail-IconAdministration