Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/995947406 |
| Titel | New horizons of applied scanning electron microscopy / Kenichi Shimizu ; Tomoaki Mitani |
| Person(en) |
Shimizu, Kenichi (Verfasser) Mitani, Tomoaki (Verfasser) |
| Verlag | Berlin ; Heidelberg : Springer |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | XIV, 179 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Shimizu, Kenichi: New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-642-03159-5 Pp. : EUR 106.95 978-3-642-26168-8 Pb. : EUR 106.95 (DE) (freier Pr.), EUR 110.00 (AT) (freier Pr.), sfr 143.50 (freier Pr.) |
| Bestellnummer(n) | 12654512 |
| EAN | 9783642031595 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Springer series in surface sciences ; 45 |
| Anmerkungen | Literaturangaben |
| Schlagwörter | Rasterelektronenmikroskopie ; Feldemissionsmikroskopie ; Probenvorbereitung ; Hochfrequenzsputtern |
| DDC-Notation | 502.825 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2010 A 7863 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2010 A 6989 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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