Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Aufgrund von Baumaßnahmen ist die Deutsche Nationalbibliothek in Frankfurt am Main vom 28. Oktober bis 9. November 2024 geschlossen.
Due to construction work, the German National Library in Frankfurt am Main will be closed from 28 October to 9 November 2024.
 
 

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Titel X‐Ray Diffraction Microstrain Analysis for Extraction of Threading Dislocation Density of GaN Films Grown on Silicon, Sapphire, and SiC Substrates
Person(en) Yon, Victor (Verfasser)
Rochat, Névine (Verfasser)
Charles, Matthew (Verfasser)
Nolot, Emmanuel (Verfasser)
Gergaud, Patrice (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2022062410530777328209
DOI: 10.1002/pssb.201900579
URL https://doi.org/10.1002/pssb.201900579
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 08.03.2020
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Physica status solidi / B / Basic solid state physics (Bd. 257, 2020, Nr. 4. 9 S.)

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