Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/114983269X |
| Veranstaltung | International Conference of Microelectronic Test Structures (30. : 2017 : Grenoble) |
| Andere Namen |
International Conference on Microelectronic Test Structures (30. : 2017 : Grenoble) ICMTS (30. : 2017 : Grenoble) |
| Zeit | 27.03.2017-30.03.2017 |
| Land | Frankreich (XA-FR) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Grenoble |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

