Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 sind von 9 bis 21:30 Uhr geöffnet. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933–1945 will be open from 9:00 to 21:30.
 
 

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Titel Enhancing 3D reconstruction accuracy of FIB tomography data using multi-voltage images and multimodal machine learning / Trushal Sardhara, Alexander Shkurmanov, Yong Li, Lukas Riedel, Shan Shi, Christian J. Cyron, Roland Aydin, Martin Ritter
Person(en) Sardhara, Trushal (Verfasser)
Shkurmanov, Alexander (Verfasser)
Li, Yong (Verfasser)
Riedel, Lukas (Verfasser)
Shi, Shan (Verfasser)
Cyron, Christian J. (Verfasser)
Aydin, Roland C. (Verfasser)
Ritter, Martin (Verfasser)
Verlag Hamburg : Technische Universität Hamburg. Universitätsbibliothek
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2405010307193.230050775630
DOI: 10.15480/882.9482
URL https://hdl.handle.net/11420/47167 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Nanomanufacturing and Metrology 7 (1): 4 (2024-12)
DDC-Notation 006.42 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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