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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1349237078 |
| Titel | YOLOv4-Based Semiconductor Wafer Notch Detection Using Deep Learning and Image Enhancement Algorithms / by Hao Wang, Hyo Jun Sim, Jong Jin Hwang, Sung Jin Kwak, Seung Jae Moon |
| Person(en) |
Wang, Hao (Verfasser) Sim, Hyo Jun (Verfasser) Hwang, Jong Jin (Verfasser) Kwak, Sung Jin (Verfasser) Moon, Seung Jae (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | 1 Online-Ressource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2411250841326.426861713843 DOI: 10.1007/s12541-024-01092-7 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s12541-024-01092-7 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2024 |
| DDC-Notation | 006.37 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: International journal of precision engineering and manufacturing (Bd. 25, 16.8.2024, Nr. 9, date:9.2024: 1909-1916) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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