Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1279949627 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Korrelation von Materialqualität und Ausfallmechanismen leistungselektronischer SiC-Bauelemente / Daniel Baierhofer ; Gutachter: Tobias Erlbacher, Georg Fischer ; Betreuer: Tobias Erlbacher |
| Person(en) |
Baierhofer, Daniel (Verfasser) Erlbacher, Tobias (Akademischer Betreuer) Erlbacher, Tobias (Gutachter) Fischer, Georg (Gutachter) |
| Verlag | Erlangen : FAU University Press |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Hochschulschrift | Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2022 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-214951 DOI: 10.25593/978-3-96147-620-6 |
| URL | https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/21495 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | FAU Studien aus der Elektrotechnik ; 18 |
| Schlagwörter | MOS-FET ; Siliciumcarbid ; Kristallzüchtung ; Gitterbaufehler ; Ausfallwahrscheinlichkeit |
| DDC-Notation | 621.3815284 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 540 Chemie |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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