Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: Anderson
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1224956907 |
| Titel | Transmission Electron Microscopy of Hydrogeninduced Defects in Low Temperature Epitaxial Silicon / by G. B. Anderson, C. C. Tsai, R. Thompson |
| Person(en) |
Anderson, G. B. (Verfasser) Tsai, C. C. (Verfasser) Thompson, R. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021011221332990867043 DOI: 10.1557/PROC-262-241 |
| URL | https://doi.org/10.1557/PROC-262-241 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1992 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 262, 1.2.1992, Nr. 1, date:12.1992: 241-246) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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