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Titel Signatures of two-level defects in the temperature-dependent damping of nanomechanical silicon nitride resonators / Thomas Faust ; Johannes Rieger ; Maximilian J. Seitner ; Jörg P. Kotthaus ; Eva M. Weig
Person(en) Faust, Thomas (Mitwirkender)
Rieger, Johannes (Mitwirkender)
Seitner, Maximilian J. (Mitwirkender)
Kotthaus, Jörg Peter (Mitwirkender)
Weig, Eva M. (Mitwirkender)
Verlag Konstanz : Bibliothek der Universität Konstanz
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2013
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:352-250322
URL http://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/25032 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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