Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=530.4*
![]() |
|
Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/991913841 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Characterization of ultrathin films on silicon by scanning force microscopy, FTIR-spectroscopy, and ellipsometry / [vorgelegt von Pavel Prunici] |
Person(en) | Prunici, Pavel (Verfasser) |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
Umfang/Format | IV, 136 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
Hochschulschrift | Heidelberg, Univ., Diss., 2007 |
Sprache(n) | Deutsch (ger) |
DDC-Notation | 530.4175 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Frankfurt |
Signatur: 2008 B 35366
Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2009 B 863
Bereitstellung in Leipzig |
