Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Service hours in Frankfurt am Main from 1 December 2025: Monday to Friday 9:00-18:00 and Saturday 10:00-16:00
 
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Online Ressourcen
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1366753895
Titel A framework for explainable root cause analysis in manufacturing systems – combining machine learning, explainable artificial intelligence and the Ishikawa model for industrial manufacturing / Daniel Kiefer, Tim Straub, Günter Bitsch, Clemens van Dinther
Person(en) Kiefer, Daniel (Verfasser)
Straub, Tim (Verfasser)
Bitsch, Günter (Verfasser)
van Dinther, Clemens (Verfasser)
Verlag Reutlingen : Hochschule Reutlingen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2025
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:rt2-opus4-55401
DOI: 10.24251/HICSS.2025.140
URL https://publikationen.reutlingen-university.de/frontdoor/index/index/docId/5540 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Proceedings of the 58th Hawai'i International Conference on System Sciences (HICSS) : 7-10 January 2025, Hawai'i. - Manoa : University of Hawai'i at Manoa, 2025, S. 1178-1187
DDC-Notation 658.5 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 650 Management

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