Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1049699629 |
Titel | Electromigration failure by shape change of voids in bamboo lines / Eduard Arzt ; Oliver Kraft ; William D. Nix ; J. E. Sanchez |
Person(en) |
Arzt, Eduard (Mitwirkender) Kraft, Oliver (Mitwirkender) Nix, William D. (Mitwirkender) Sanchez, J. E. (Mitwirkender) |
Verlag | Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2008 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-17468 |
URL | http://scidok.sulb.uni-saarland.de/volltexte/2008/1746/ (Verlag) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Anmerkungen | Lizenzpflichtig. - In: Journal of applied physics. - 76. 1994, 3, S. 1563-1571 |
Schlagwörter | Elektromigration |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
