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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1049699629
Titel Electromigration failure by shape change of voids in bamboo lines / Eduard Arzt ; Oliver Kraft ; William D. Nix ; J. E. Sanchez
Person(en) Arzt, Eduard (Mitwirkender)
Kraft, Oliver (Mitwirkender)
Nix, William D. (Mitwirkender)
Sanchez, J. E. (Mitwirkender)
Verlag Saarbrücken : Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2008
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bsz:291-scidok-17468
URL http://scidok.sulb.uni-saarland.de/volltexte/2008/1746/ (Verlag)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen Lizenzpflichtig. - In: Journal of applied physics. - 76. 1994, 3, S. 1563-1571
Schlagwörter Elektromigration
Sachgruppe(n) 530 Physik

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