Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: P.M.
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1367207797 |
| Titel | Resolution enhancement of scanning electron micrographs using artificial intelligence / Tom Reclik, Setareh Medghalchi, P. Schumacher, M. A. Wollenweber, Talal Al-Samman, Sandra Korte-Kerzel, Ulrich Bernd Kerzel |
| Person(en) |
Reclik, Tom (Verfasser) Medghalchi, Setareh (Verfasser) Schumacher, P. (Verfasser) Wollenweber, M. A. (Verfasser) Al-Samman, Talal (Verfasser) Korte-Kerzel, Sandra (Verfasser) Kerzel, Ulrich Bernd (Verfasser) |
| Verlag | Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2505300135352.603616716363 DOI: 10.18154/RWTH-2025-04907 |
| URL | https://publications.rwth-aachen.de/record/1012191 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: 10.1016/j.matdes.2025.113955 |
| DDC-Notation | 621 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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