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Titel Three-Dimensional Orientation Microscopy in a Focused Ion Beam–Scanning Electron Microscope: A New Dimension of Microstructure Characterization / by S. Zaefferer, S.I. Wright, D. Raabe
Person(en) Zaefferer, S. (Verfasser)
Wright, S.I (Verfasser)
Raabe, Dierk (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2021081410300551519805
DOI: 10.1007/s11661-007-9418-9
URL https://doi.org/10.1007/s11661-007-9418-9 (Open Access)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2008
DDC-Notation 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Metallurgical and materials transactions / A / Physical metallurgy and materials science (Bd. 39, 4.1.2008, Nr. 2, date:2.2008: 374-389)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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