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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel The trace model for spatial invariance with applications in structured pattern recognition, image patch matching and incremental visual tracking / Jan Ernst
Person(en) Ernst, Jan (Verfasser)
Verlag Aachen : Shaker
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2014
Umfang/Format 126 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm, 189 g
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: The Trace Model for Spatial Invariance with Applications in Structured Pattern Recognition, Image Patch Matching and Incremental Visual Tracking
Hochschulschrift Zugl.: Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2013
ISBN/Einband/Preis 978-3-8440-3056-3 kart. : EUR 45.80 (DE), EUR 45.80 (AT), sfr 57.25 (freier Pr.)
EAN 9783844030563
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Berichte aus der Informatik
Schlagwörter Maschinelles Sehen ; Signaldarstellung ; Verzerrung <Elektrotechnik> ; Invarianz ; Topologie ; Homöomorphismus ; Nachbarschaftsraum ; Mustererkennung ; Regionenorientierte Segmentierung ; Objektverfolgung
DDC-Notation 006.37 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 004 Informatik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis
Inhaltstext

Frankfurt Signatur: 2014 A 81219
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2015 A 4635
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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