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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1315245957
Titel Mechanism of Fatigue in Ferroelectric Thin Films
Person(en) Yoo, I. K. (Verfasser)
Desu, S. B. (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2024010704554438106122
DOI: 10.1002/pssa.2211330242
URL https://doi.org/10.1002/pssa.2211330242
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 16.02.2006
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Physica status solidi / A / Applications and materials science (Bd. 133, 2006, Nr. 2: 565-573. 9 S.)

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