Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Treffer 1982 von 30801
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1080521801 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Untersuchungen zur thermisch induzierten Festphasenkristallisation von Silizium-Dünnschichten durch Diodenlaserbestrahlung / Thomas Schmidt. Gutachter: Fritz Falk ; Frank Schmidl ; Detlef Klimm |
| Person(en) |
Schmidt, Thomas (Verfasser) Falk, Fritz (Akademischer Betreuer) Schmidl, Frank (Akademischer Betreuer) Klimm, Detlef (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Jena : Thüringer Universitäts- und Landesbibliothek Jena |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Schmidt, Thomas: Untersuchungen zur thermisch induzierten Festphasenkristallisation von Silizium-Dünnschichten durch Diodenlaserbestrahlung |
| Hochschulschrift | Jena, Friedrich-Schiller-Universität Jena, Diss., 2015 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:27-20151217-112123-5 |
| URL | http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=27045 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter | Silicium ; Amorpher Halbleiter ; Dünne Schicht ; Kristallisation ; Laserinduziertes Verfahren |
| DDC-Notation | 537.6226 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
Treffer 1982 von 30801
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