Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Hochschule Nordhausen"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1373183063 |
| Titel | Photovoltaic module reliability testing in the context of carrier-induced degradation |
| Verlag | Nordhausen : Hochschule Nordhausen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-940820-23-5 Broschur |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Frankfurt | Publikation im Haus und in Bearbeitung |
| Leipzig | Publikation im Haus und in Bearbeitung |
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