Crystallite Thickness Estimates from Precession Electron Diffraction Patterns for Structural Fingerprinting in the Quasi-kinematic Limit

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Link zu diesem Datensatz	https://d-nb.info/1315379090
Titel	Crystallite Thickness Estimates from Precession Electron Diffraction Patterns for Structural Fingerprinting in the Quasi-kinematic Limit / Peter Moeck, J. Straton, Sergei Rouvimov, I. Haeusler
Person(en)	Moeck, Peter (Verfasser) Straton, J. (Verfasser) Rouvimov, Sergei (Verfasser) Haeusler, I. (Verfasser)
Verlag	Berlin : Humboldt-Universität zu Berlin
Zeitliche Einordnung	Erscheinungsdatum: 2024
Umfang/Format	Online-Ressource
Persistent Identifier	URN: urn:nbn:de:kobv:11-110-18452/28644-4 DOI: 10.1017/S1431927612004667
URL	http://edoc.hu-berlin.de/18452/28644 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n)	Englisch (eng)
Anmerkungen	In: Microscopy and microanalysis, Band 18, Ausgabe S2, Seite 562-563, 2012
DDC-Notation	660.63 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n)	660 Technische Chemie

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