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Art des Inhalts Norm
Titel DIN EN IEC 61169-1-5 (VDE 0887-969-1-5), Hochfrequenz-Steckverbinder. Teil 1-5, Elektrische Prüfverfahren - Degradation der Anstiegszeit = Radio frequency connectors. Part 1-5, Electrical test methods - rise time degradation / DKE, Deutsche Kommission Elektrotechnik Elektronik Informationstechnik in DIN und VDE
Organisation(en) Deutsche Kommission Elektrotechnik, Elektronik, Informationstechnik (Herausgebendes Organ)
Werk(e) DIN EN IEC 61169, 1-5
Ausgabe Deutsche Fassung EN IEC 61169-1-5:2022
Verlag Berlin : Beuth Verlag GmbH
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: Oktober 2023
Umfang/Format 15 Seiten : Illustrationen ; 30 cm
ISBN/Einband/Preis Broschur
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen Deutsche Norm
Sachgruppe(n) 600 Technik

Frankfurt Signatur: 2023 BB 133412
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2024 BB 17514
Bereitstellung in Leipzig




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