Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1041654715 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging / [put forward by Benjamin Titze] |
| Person(en) | Titze, Benjamin (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2013 |
| Umfang/Format | 112 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Titze, Benjamin: Techniques to prevent sample surface charging and reduce beam damage effects for SBEM imaging |
| Hochschulschrift | Heidelberg, Univ., Diss., 2013 (Nicht für den Austausch) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| DDC-Notation | 502.825 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2013 B 24273 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2014 B 4799 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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