Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=040142000
Treffer 22 von 37
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/870816926 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Strukturelle und elektrische Eigenschaften polykristalliner Siliziumdünnfilme / Rainer Podbielski |
| Person(en) | Podbielski, Rainer (Verfasser) |
| Verlag | Düsseldorf : VDI-Verl. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1986 |
| Umfang/Format | 175 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Hamburg, Techn. Univ., Diss., 1986 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-18-146209-6 kart. : DM 106.00 (nicht im Sortimentsbuchh.) 3-18-146209-8 kart. : DM 106.00 (nicht im Sortimentsbuchh.) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | Verein Deutscher Ingenieure: Fortschrittberichte VDI / Reihe 9 / Elektronik, Mikro- und Nanotechnik ; Nr. 62 |
| Anmerkungen |
Als Ms. gedr. Status nach VGG: vergriffen |
| Schlagwörter | Silicium ; Dünne Schicht ; Polykristall ; Elektrische Leitfähigkeit ; Messung |
| Sachgruppe(n) | 37 Elektrotechnik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: D 86/33437
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: ZB 62631
Bereitstellung in Leipzig |
Treffer 22 von 37
Administration
