Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Georg" and "Schmidt"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1228490287 |
| Titel | Electrical Characterization of Vacuum Deposited and Solution Processed DH4T Thin Film Transistors / by Tobias Muck, Michael Leufgen, Amira Lebib, Tanja Borzenko, Jean Geurts, Georg Schmidt, Laurens W. Molenkamp, Veit Wagner, Henrique L. Gomes |
| Person(en) |
Muck, Tobias (Verfasser) Leufgen, Michael (Verfasser) Lebib, Amira (Verfasser) Borzenko, Tanja (Verfasser) Geurts, Jean (Verfasser) Schmidt, Georg (Verfasser) Molenkamp, Laurens W. (Verfasser) Wagner, Veit (Verfasser) Gomes, Henrique L. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021030318024292072749 DOI: 10.1557/PROC-771-L10.3 |
| URL | https://doi.org/10.1557/PROC-771-L10.3 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2003 |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 771, 1.12.2003, Nr. 1, date:12.2003: 1031-1036) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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