Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "108912833"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1161671110 |
| Titel | Quantifying the effect of metal-rich precipitates on minority carrier diffusion length in multicrystalline silicon using synchrotron-based spectrally resolved x-ray beam-induced current / Tonio Buonassisi, Andrei A. Istratov, Matthew D. Pickett, Matthew A. Marcus, Giso Hahn, Stephan Riepe, Jörg Isenberg, Wilhelm Warta, Gerd Willeke, Ted F. Ciszek, Eicke R. Weber |
| Person(en) |
Buonassisi, Tonio (Verfasser) Istratov, Andrei A. (Verfasser) Pickett, Matthew D. (Verfasser) Marcus, Matthew A. (Verfasser) Hahn, Giso (Verfasser) Riepe, Stephan (Verfasser) Isenberg, Jörg (Verfasser) Warta, Wilhelm (Verfasser) Willeke, Gerd (Verfasser) Ciszek, Ted F. (Verfasser) Weber, Eicke (Verfasser) |
| Verlag | Konstanz : Bibliothek der Universität Konstanz |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2005 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:352-2-1i8p164s34ew87 |
| URL | http://kops.uni-konstanz.de/handle/123456789/31408 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: Applied Physics Letters ; 87 (2005), 4. - 044101. - ISSN 0003-6951. - eISSN 1077-3118 |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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