Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.
 
Neuigkeiten Vom 10. September 2025, 13 Uhr, bis 11. September 2025, 22 Uhr, kann es zu Einschränkungen bei der Bereitstellung von Medienwerken kommen. Wir informieren Sie per E-Mail über den aktuellen Stand Ihrer Bestellungen. // From 13:00 on 10 September 2025 until 22:00 on 11 September 2025, there may be restrictions on the provision of media works. We will inform you by email about the current status of your orders.
 
 

Ergebnis der Suche nach: P.M.

Zurück zur Trefferliste


Treffer 23 von 32089 < < > <



Online Ressourcen
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1367207797
Titel Resolution enhancement of scanning electron micrographs using artificial intelligence / Tom Reclik, Setareh Medghalchi, P. Schumacher, M. A. Wollenweber, Talal Al-Samman, Sandra Korte-Kerzel, Ulrich Bernd Kerzel
Person(en) Reclik, Tom (Verfasser)
Medghalchi, Setareh (Verfasser)
Schumacher, P. (Verfasser)
Wollenweber, M. A. (Verfasser)
Al-Samman, Talal (Verfasser)
Korte-Kerzel, Sandra (Verfasser)
Kerzel, Ulrich Bernd (Verfasser)
Verlag Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2025
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2505300135352.603616716363
DOI: 10.18154/RWTH-2025-04907
URL https://publications.rwth-aachen.de/record/1012191 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: 10.1016/j.matdes.2025.113955
DDC-Notation 621 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

Online-Zugriff Archivobjekt öffnen




Treffer 23 von 32089
< < > <




Aktionen

Aktionen


E-Mail-IconKorrekturanfrage

E-Mail-IconAdministration