Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1160186863 |
| Titel | Conductive Atomic Force Microscopy : Applications in Nanomaterials |
| Person(en) | Lanza, Mario (Herausgeber) |
| Organisation(en) | Wiley-VCH (Verlag) |
| Ausgabe | 1. Auflage |
| Verlag | Weinheim : Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2017 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, XX, 362 Seiten : 226 Illustrationen (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) |
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: ISBN: 978-3-527-34091-0 Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Conductive atomic force microscopy |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:101:1-201805281494 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-527-69978-0 3-527-69978-3 |
| EAN | 9783527699780 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Schlagwörter | Elektrische Leitfähigkeit ; Rasterkraftmikroskopie |
| DDC-Notation | 502.82 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Weiterführende Informationen | Auszug |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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