Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Der Multimedia-Zeitschriftenlesesaal und der Kartenlesesaal in Leipzig sind vom 30.10. bis 03.11. geschlossen. // The multimedia/periodical reading room and the map reading room in Leipzig are closed from 30.10 to 03.11.
 
Neuigkeiten Leipzig: Freitag, 31. Oktober 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek in Leipzig ist geschlossen. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. // Friday, 31 October 2025: The German National Library in Leipzig will be closed. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing will open from 10:00 to 18:00.
 
 

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Korrelation von Materialqualität und Ausfallmechanismen leistungselektronischer SiC-Bauelemente / Daniel Baierhofer ; Gutachter: Tobias Erlbacher, Georg Fischer ; Betreuer: Tobias Erlbacher
Person(en) Baierhofer, Daniel (Verfasser)
Erlbacher, Tobias (Akademischer Betreuer)
Erlbacher, Tobias (Gutachter)
Fischer, Georg (Gutachter)
Verlag Erlangen : FAU University Press
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2023
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Hochschulschrift Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2022
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-214951
DOI: 10.25593/978-3-96147-620-6
URL https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/21495 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen FAU Studien aus der Elektrotechnik ; 18
Schlagwörter MOS-FET ; Siliciumcarbid ; Kristallzüchtung ; Gitterbaufehler ; Ausfallwahrscheinlichkeit
DDC-Notation 621.3815284 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 540 Chemie

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