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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1287613101
Titel Pattern recognition of typical defects in high-voltage storage capacitors based on DC partial discharge / by GuangNing Wu, ShanShan Bian, LiRen Zhou, XueQin Zhang, HanZheng Ran, ChengLong Yu
Person(en) Wu, GuangNing (Verfasser)
Bian, ShanShan (Verfasser)
Zhou, LiRen (Verfasser)
Zhang, XueQin (Verfasser)
Ran, HanZheng (Verfasser)
Yu, ChengLong (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2023050109482964050349
DOI: 10.1007/s11431-009-0380-1
URL https://doi.org/10.1007/s11431-009-0380-1
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2009
DDC-Notation 621.3192 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Science in China / Series E / Technological sciences (Bd. 52, 18.12.2009, Nr. 12, date:12.2009: 3729-3735)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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