Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Kraków"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1229826602 |
| Titel | Detection of Point Defect Chains in Ion Irradiated Silicon by High Resolution Electron Microscopy / by W. Krakow, T. Y. Tan, H. Foell |
| Person(en) |
Krakow, W. (Verfasser) Tan, T. Y. (Verfasser) Foell, H. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021032122303552486969 DOI: 10.1557/PROC-2-185 |
| URL | https://doi.org/10.1557/PROC-2-185 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1981 |
| DDC-Notation | 530.411 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 2, 15.2.2011, Nr. 1, date:12.1980: 185-190) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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