Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=5*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/120515714X |
| Titel | X-ray structural characterization of individual as-grown GaAs/(In,Ga)As/(GaAs) based core-multi-shell nanowires / Ali Al Hassan ; Gutachter: Ullrich Pietsch |
| Person(en) |
Al Hassan, Ali (Verfasser) Pietsch, Ullrich (Gutachter) |
| Verlag | Siegen : Universitätsbibliothek der Universität Siegen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2019 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, Siegen, Universität Siegen, 2019 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:hbz:467-15562 |
| URL | https://dspace.ub.uni-siegen.de/handle/ubsi/1556 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter |
Röntgendiffraktometrie Nanowires* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 537.622 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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