Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1126452920 |
| Art des Inhalts | Aufsatzsammlung |
| Titel | Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials / edited by Mario Lanza |
| Person(en) | Lanza, Mario (Herausgeber) |
| Organisation(en) | Wiley-VCH (Verlag) |
| Ausgabe | [1. Auflage] |
| Verlag | Weinheim, Germany : Wiley-VCH |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2017] |
| Umfang/Format | XIX, 361 Seiten : Illustrationen, Diagramme ; 25 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Conductive Atomic Force Microscopy |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-527-34091-0 Festeinband : circa EUR 149.00 (DE) (freier Preis) 3-527-34091-2 |
| Bestellnummer(n) | Bestellnummer: 1134091 000 |
| EAN | 9783527340910 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Elektrische Leitfähigkeit ; Rasterkraftmikroskopie |
| DDC-Notation | 502.82 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 500 Naturwissenschaften |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2018 A 12598 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2017 A 87865 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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