Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Die Deutsche Nationalbibliothek in Frankfurt am Main ist an Fronleichnam, Donnerstag, 4. Juni 2026 geschlossen. // The German National Library in Frankfurt am Main will be closed on Thursday, 4 June 2026 due to a public holiday (Fronleichnam).
 
Neuigkeiten Mittwoch, den 10. Juni 2026 öffnen die Lesesäle der Deutschen Nationalbibliothek in Leipzig erst ab 13 Uhr. // On Wednesday 10 June 2026 The German National Library in Leipzig will not open until 13:00.
 
 

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Online Ressourcen
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1397624620
Titel Application-oriented threshold voltage shift of GaN-HEMTs – test bench and results / Benedikt Kohlhepp, Daniel Breidenstein, Niklas Stöcklein, Thomas Dürbaum, Sibylle Dieckerhoff
Person(en) Kohlhepp, Benedikt (Verfasser)
Breidenstein, Daniel (Verfasser)
Stöcklein, Niklas (Verfasser)
Dürbaum, Thomas (Verfasser)
Dieckerhoff, Sibylle (Verfasser)
Verlag Berlin : Technische Universität Berlin
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2026
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2604290204080.010485282336
DOI: 10.14279/depositonce-24920
Handle: 11303/26092
URL (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: IEEE journal of emerging and selected topics in power electronics (14:2) - New York : IEEE - S. 1993-2005
DDC-Notation 621.381528 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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