Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
|
|
|
| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1397624620 |
| Titel | Application-oriented threshold voltage shift of GaN-HEMTs – test bench and results / Benedikt Kohlhepp, Daniel Breidenstein, Niklas Stöcklein, Thomas Dürbaum, Sibylle Dieckerhoff |
| Person(en) |
Kohlhepp, Benedikt (Verfasser) Breidenstein, Daniel (Verfasser) Stöcklein, Niklas (Verfasser) Dürbaum, Thomas (Verfasser) Dieckerhoff, Sibylle (Verfasser) |
| Verlag | Berlin : Technische Universität Berlin |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2026 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2604290204080.010485282336 DOI: 10.14279/depositonce-24920 Handle: 11303/26092 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: IEEE journal of emerging and selected topics in power electronics (14:2) - New York : IEEE - S. 1993-2005 |
| DDC-Notation | 621.381528 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

