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Titel Investigation of the Thermoelectric Properties of LiAlSi and LiAlGe / by Joachim Barth, Gerhard H. Fecher, Markus Schwind, Andreea Beleanu, Claudia Felser, Andrey Shkabko, Anke Weidenkaff, Jan Hanss, Armin Reller, Martin Köhne
Person(en) Barth, Joachim (Verfasser)
Fecher, Gerhard H. (Verfasser)
Schwind, Markus (Verfasser)
Beleanu, Andreea (Verfasser)
Felser-Wenz, Claudia (Verfasser)
Shkabko, Andrey (Verfasser)
Weidenkaff, Anke (Verfasser)
Hanss, Jan (Verfasser)
Reller, Armin (Verfasser)
Köhne, Martin (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019111620534756944693
DOI: 10.1007/s11664-010-1076-9
URL https://doi.org/10.1007/s11664-010-1076-9
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2010
DDC-Notation 537.6 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic materials (Bd. 39, 4.2.2010, Nr. 9, date:9.2010: 1856-1860)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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