Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Dienstag, 17. Juni 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek ist wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten geschlossen. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums in Leipzig sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 in Frankfurt sind geschlossen. // Tuesday, 17 June 2025: The German National Library will be closed at both locations due to a staff meeting. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing in Leipzig will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933-1945 in Frankfurt will be closed.
 
 

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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1346284261
Titel X-Detect: explainable adversarial patch detection for object detectors in retail / by Omer Hofman, Amit Giloni, Yarin Hayun, Ikuya Morikawa, Toshiya Shimizu, Yuval Elovici, Asaf Shabtai
Person(en) Hofman, Omer (Verfasser)
Giloni, Amit (Verfasser)
Hayun, Yarin (Verfasser)
Morikawa, Ikuya (Verfasser)
Shimizu, Toshiya (Verfasser)
Elovici, Yuval (Verfasser)
Shabtai, Asaf (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2410272129243.093415452555
DOI: 10.1007/s10994-024-06548-5
URL https://doi.org/10.1007/s10994-024-06548-5
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 006.37 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Machine learning (Bd. 113, 19.6.2024, Nr. 9, date:9.2024: 6273-6292)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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