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Bücher
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber / vorgelegt von Alexander Gerlach
Person(en) Gerlach, Alexander (Verfasser)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2001
Umfang/Format 146 S. : graph. Darst. ; 21 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Gerlach, Alexander: Analyse von Linienbreiten in Photoemissionsspektren zur Bestimmung von d-Lochlebensdauern in Kupfer und Silber
Hochschulschrift Kassel, Univ., Diss., 2001
Schlagwörter Kupfer ; d-Elektron ; Defektelektron ; Lebensdauer ; Photoemissionsspektrum ; Linienbreite
Silber ; d-Elektron ; Defektelektron ; Lebensdauer ; Photoemissionsspektrum ; Linienbreite
DDC-Notation 530.416 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 29 Physik, Astronomie
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: H 2002 A 1647
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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Leipzig Signatur: H 2002 A 1647
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
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