Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Support Vector Machines"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1097934942 |
| Titel | Automated defect recognition of C-SAM images in IC packaging using Support Vector Machines / by Y.L. Zhang, N. Guo, H. Du, W.H. Li |
| Person(en) |
Zhang, Y.L (Verfasser) Guo, N. (Mitwirkender) Du, H. (Mitwirkender) Li, W.H (Mitwirkender) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Herausgebendes Organ) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-201604245959 DOI: 10.1007/s00170-003-1942-1 |
| URL | http://dx.doi.org/10.1007/s00170-003-1942-1 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2004 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: The international journal of advanced manufacturing technology (Bd. 25, 11.8.2004, Nr. 11-12, date:6.2005: 1191-1196) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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