Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1363279505 |
Titel | Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen von Querschliffen von Malschichtproben/Scanning Electron Microscopic Investigation of Cross-Sections Taken from Paint Layer Specimens |
Person(en) |
Banik, Gerhard (Verfasser) Schreiner, Manfred (Verfasser) Mairinger, Franz (Verfasser) Stachelberger, Herbert (Verfasser) |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2504170741502.170642683368 DOI: 10.1515/pm-1982-190205 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 15.04.2025 |
Sprache(n) | Deutsch (ger) |
Beziehungen | Enthalten in: Practical metallography (Bd. 19, 1982, Nr. 2: 104-108. 5 S.) |
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