Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1067983929 |
| Titel | Reliability of PCBs − substitute of microsection by resistance measurement at single throughholes during thermo cycling test / ZVEI, Zentralverband Elektrotechnik- und Elektronikindustrie e.V. |
| Verlag | Frankfurt, M. : ZVEI, Zentralverband Elektrotechnik- und Elektronikindustrie e.V. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Frankfurt | Ohne Bestand in der Deutschen Nationalbibliothek |
| Leipzig | Ohne Bestand in der Deutschen Nationalbibliothek |

