Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Basisdaten"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1304949893 |
| Titel | Struktur‐Untersuchung überkonsolidierter Tone mit dem Raster‐Kraft‐Mikroskop (AFM) |
| Person(en) |
Schick, P. (Verfasser) Kempe, A. (Verfasser) Wedderer, O. (Verfasser) Heckl, W. (Verfasser) |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023100507403662842621 DOI: 10.1002/bate.200304650 |
| URL | https://doi.org/10.1002/bate.200304650 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 02.04.2013 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Bautechnik (Bd. 80, 2013, Nr. 9: 595-602. 8 S.) |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

