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Online Ressourcen
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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Characterization of Device-Performance Relevant Defects in 4H Silicon Carbide / Elisabeth Kodolitsch ; Gutachter: Peter Wellmann ; Betreuer: Heiko Weber
Person(en) Kodolitsch, Elisabeth (Verfasser)
Weber, Heiko (Akademischer Betreuer)
Wellmann, Peter (Gutachter)
Verlag Erlangen : Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2025
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2024
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2507040710338.244145974609
DOI: 10.25593/open-fau-2064
URL (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Siliciumcarbid* ; Störstelle* ; Silicium* ; Gitterbaufehler* (*maschinell ermittelt)
DDC-Notation 537.6226 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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