Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1374112917 |
| Veranstaltung | IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (37. : 2025 : San Antonio, Tex.) |
| Andere Namen |
ICMTS (37. : 2025 : San Antonio, Tex.) ICMTS, IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, March 24-27, 2025, San Antonio, Texas, USA |
| Quelle | Homepage (via Web-Archive) (Stand: 18.08.2025): http://web.archive.org/web/20250323161924/https://icmts.net/ |
| Zeit | 24.03.2025-27.03.2025 |
| Land | USA (XD-US) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: San Antonio, Tex. |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

