Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/135591907X |
| Titel | Characterization, Analysis, and Modeling of Dynamic Radio-Frequency Large-Signal Operating Limits, and Long-Term Reliability and Degradation of Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistors / Christoph Weimer |
| Person(en) | Weimer, Christoph (Verfasser) |
| Organisation(en) | Vogt Verlag (Verlag) |
| Ausgabe | 1. Auflage |
| Verlag | Dresden : Jörg Vogt Verlag |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | 264 Seiten ; 21 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Weimer, Christoph: Characterization, Analysis, and Modeling of Dynamic Radio-Frequency Large-Signal Operating Limits, and Long-Term Reliability and Degradation of Silicon-Germanium Heterojunction Bipolar Transistors |
| Hochschulschrift | Dissertation, TU Dresden, 2025 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-95947-077-3 Broschur : EUR 69.00 (DE), EUR 71.00 (AT) 3-95947-077-0 |
| EAN | 9783959470773 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltstext |
| Frankfurt | Ohne Bestand in der Deutschen Nationalbibliothek |
| Leipzig | Ohne Bestand in der Deutschen Nationalbibliothek |
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