Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1162629592 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films / Felix Lüpke ; Bert Voigtländer, Markus Morgenstern |
| Person(en) |
Lüpke, Felix (Verfasser) Voigtländer, Bert (Akademischer Betreuer) Morgenstern, Markus (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2018 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, RWTH Aachen University, 2017 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2018071209160394856122 DOI: 10.18154/RWTH-2018-00215 |
| URL | http://publications.rwth-aachen.de/record/712067 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Dünne Schicht ; Rastertunnelmikroskopie ; Potentiometrie |
| DDC-Notation | 530.4175 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik ; 540 Chemie |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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