Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=539.7*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1205155686 |
| Titel | Temperature scaling of leakage current in irradiated silicon sensors / Felix Wizemann ; Gutachter: Johannes Albrecht ; Betreuer: Kevin Kröninger |
| Person(en) |
Wizemann, Felix (Verfasser) Kröninger, Kevin (Akademischer Betreuer) Albrecht, Johannes (Gutachter) |
| Verlag | Dortmund : Universitätsbibliothek Dortmund |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2019 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Dissertation, Dortmund, Technische Universität, 2019 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020022102430646140034 Handle: 2003/38572 |
| URL | http://hdl.handle.net/2003/38572 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter |
Siliciumsensor ; ATLAS <Teilchendetektor> ; HL-LHC ; CERN ; Elementarteilchenphysik CERN* ; Detectors* ; Silicon* ; Temperature* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 539.776 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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