Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Classification"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/124660826X |
| Titel | Pattern Classification for Small-Sized Defects Using Multi-Head CNN in Semiconductor Manufacturing / by Yunseon Byun, Jun-Geol Baek |
| Person(en) |
Byun, Yunseon (Verfasser) Baek, Jun-Geol (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021112709005656214323 DOI: 10.1007/s12541-021-00566-2 |
| URL | https://doi.org/10.1007/s12541-021-00566-2 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
| DDC-Notation | 006.32 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: International journal of precision engineering and manufacturing (Bd. 22, 4.8.2021, Nr. 10, date:10.2021: 1681-1691) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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