Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: tit all "Pattern Recognition"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1072311518 |
| Titel | Integrated Imaging and Vision Techniques for Industrial Inspection : Advances and Applications |
| Person(en) |
Liu, Zheng (Herausgeber) Ukida, Hiroyuki (Herausgeber) Ramuhalli, Pradeep (Herausgeber) Niel, Kurt (Herausgeber) |
| Organisation(en) | Springer-Verlag London Ltd. (Verlag) |
| Ausgabe | Aufl. 2016 |
| Verlag | Guildford, Surrey : Springer London |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
| Umfang/Format | X, 534 S. in 1 Teil : 13 farb. Ill. ; 235 mm x 155 mm, 0 g |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: ISBN: 9781447167419 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-1-4471-6740-2 Gb. : ca. EUR 117.69 (DE) (freier Pr.), ca. EUR 120.99 (AT) (freier Pr.), ca. sfr 124.00 (freier Pr.) 1-4471-6740-6 |
| Bestellnummer(n) | 978-1-4471-6740-2 |
| EAN | 9781447167402 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Advances in Pattern Recognition |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltstext |
| Frankfurt |
Bestand: [Gehoert eindeutig nicht zum Sammelgebiet der Deutschen Nationalbibliothek]
Verlagsinformation |
| Leipzig |
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