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Bücher
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1187768847
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films / Stephan van Duren
Person(en) Duren, Stephan van (Verfasser)
Organisation(en) Technische Universität Berlin. Universitätsbibliothek (Verlag)
Verlag Berlin : Universitätsverlag der TU Berlin
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2019
Umfang/Format XIX Seiten, Seite 20-183 : Illustrationen ; 22 cm, 310 g
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: ISBN: 9783798330658
Erscheint auch als Online-Ausgabe: Duren, Stephan van: Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films
Hochschulschrift Dissertation, Technische Universität Berlin, 2018
ISBN/Einband/Preis 978-3-7983-3064-1 Broschur : EUR 12.00 (DE), EUR 12.40 (AT)
3-7983-3064-6
EAN 9783798330641
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Advanced ceramic materials ; volume 2
Schlagwörter Kesterit ; Halbleiterschicht ; Schichtwachstum ; Reflektometrie ; Raman-Spektroskopie ; Röntgendiffraktometrie
DDC-Notation 537.6226 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2019 A 51318
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2019 A 89506
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Leipzig




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