Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1187768847 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films / Stephan van Duren |
Person(en) | Duren, Stephan van (Verfasser) |
Organisation(en) | Technische Universität Berlin. Universitätsbibliothek (Verlag) |
Verlag | Berlin : Universitätsverlag der TU Berlin |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2019 |
Umfang/Format | XIX Seiten, Seite 20-183 : Illustrationen ; 22 cm, 310 g |
Andere Ausgabe(n) |
Erscheint auch als Online-Ausgabe: ISBN: 9783798330658 Erscheint auch als Online-Ausgabe: Duren, Stephan van: Development of in situ methods for process monitoring and control and characterization of Cu-Zn-Sn-S based thin films |
Hochschulschrift | Dissertation, Technische Universität Berlin, 2018 |
ISBN/Einband/Preis |
978-3-7983-3064-1 Broschur : EUR 12.00 (DE), EUR 12.40 (AT) 3-7983-3064-6 |
EAN | 9783798330641 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Advanced ceramic materials ; volume 2 |
Schlagwörter | Kesterit ; Halbleiterschicht ; Schichtwachstum ; Reflektometrie ; Raman-Spektroskopie ; Röntgendiffraktometrie |
DDC-Notation | 537.6226 [DDC23ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
Frankfurt |
Signatur: 2019 A 51318 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2019 A 89506 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
