Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Servicezeiten in Frankfurt am Main ab 1. Dezember 2025: Montag bis Freitag 9–18 Uhr und Samstag 10–16 Uhr
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Neuigkeiten Wegen Wartungsarbeiten ist vom 12. bis 14. Januar 2026 der Museumslesesaal, sowie vom 14. bis 16. Januar 2026 der Musiklesesaal geschlossen. // Due to maintenance work the museum reading room will be closed from 12 to 14 January 2026 and the music reading room from 14 to 16 January 2026.
 
 

Ergebnis der Suche nach: dcs=530.4*



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Online Ressourcen
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1162629592
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Scanning tunneling potentiometry at nanoscale defects in thin films / Felix Lüpke ; Bert Voigtländer, Markus Morgenstern
Person(en) Lüpke, Felix (Verfasser)
Voigtländer, Bert (Akademischer Betreuer)
Morgenstern, Markus (Akademischer Betreuer)
Verlag Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2018
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift Dissertation, RWTH Aachen University, 2017
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2018071209160394856122
DOI: 10.18154/RWTH-2018-00215
URL http://publications.rwth-aachen.de/record/712067 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Schlagwörter Dünne Schicht ; Rastertunnelmikroskopie ; Potentiometrie
DDC-Notation 530.4175 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik ; 540 Chemie

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